Crystal Structure Analysis
Principles and Practice
William Clegg, Alexander J. Blake, Robert O. Gould, Peter Main
Résumé
Contents
Preface
Acknowledgements
1. A basic introduction to x-ray crystallography
2. Crystal growth, evaluation and mounting
3. Symmetry and space group determination
4. Background theory for data collection
5. Data collection using four-circle diffractometers
6. Area detectors
7. Fourier syntheses
8. Structure determination by Patterson methods
9. Direct methods of crystal structure determination
10. An introduction to maximum entropy
11. Least squares fitting of parameters
12. Practical aspects of structure refinement
13. The derivation of results
14. The interpretation of results
15. The presentation of results
16. The Crystallographic Information File (CIF)
17. Crystallographic databases
18. Other topics
A. Useful mathematics and formulae
B. A short crystallographic dictionary
C. Answers to the exercises
L'auteur - William Clegg
William Clegg est chercheur à l'université de Newcastle
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Caractéristiques techniques
PAPIER | |
Éditeur(s) | Oxford University Press |
Auteur(s) | William Clegg, Alexander J. Blake, Robert O. Gould, Peter Main |
Parution | 22/01/2002 |
Nb. de pages | 266 |
Format | 16 x 24 |
Couverture | Relié |
Poids | 520g |
Intérieur | Noir et Blanc |
EAN13 | 9780198506188 |
ISBN13 | 978-0-19-850618-8 |
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